Отдел 441 метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии в Северо-Западном ФО
Помещение 329
3 этаж, лестница 6
Начальник отдела
Грабарь Анатолий Григорьевич
Тел.: (812) 244-12-72
nano@rustest.spb.ru
07 июня 2012 г.

Научно-практической конференции "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии"

С 4 по 7 июня 2012 г. специалисты ФБУ «Тест – С.-Петербург» приняли участие научно-практической конференции «Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии», которая проходила в Научном центре РАН в Черноголовке (Московская область), организованной Фондом инфраструктурных и образовательных программ и Федеральным агентством по техническому регулированию и метрологии.

Тематика конференции включала следующие направления:

  • российская и международная практика в области метрологии и стандартизации продукции наноиндустрии. Нормативно-методическое обеспечение наноиндустрии РФ;
  • вопросы прикладной метрологии в наноиндустрии: разработка и применение методов и средств измерений в производственных процессах и контроле качества продукции;
  • характеризация перспективных наноматериалов и наноструктур разных типов современными методами измерений.

Отрыл работу конференции президент Комитета КООМЕТ, директор ФГУП «ВНИИОФИ» КРУТИКОВ Владимир Николаевич (фото), который выступил с докладом: «Методическая составляющая и инфраструктура Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и продукции наноиндустрии».

В работе школы принимали участие ведущие метрологи РФ из ВНИИОФИ, ВНИИМС, ВНИИНМАШ, УНИИМ, ТИСНУМ, а также ученые, проводящие исследования и разработки в различных областях нанотехнологий, из НИЦ «Курчатовский институт», Центр Келдыша, МИСиС, МФТИ, Институт кристаллографии. От Санкт-Петербургских ученых-нанотехнологов были представлены доклады представителей ФТИ им. академика А.Ф. Иоффе.

На конференции выступили российские ученые, работающие в зарубежных научных центрах (National Physical Laboratory (Великобритания); Dispersion Technology Inc, США, Birck Nanotechnology Center and School of Materials Engineering, Purdue University (США).

По завершении работы конференции была организована экскурсия в УНЦМ «Международная школа микроскопии» НИТУ «МИСиС».